ブックタイトルメカトロニクス11月号2015年
- ページ
- 17/60
このページは メカトロニクス11月号2015年 の電子ブックに掲載されている17ページの概要です。
秒後に電子ブックの対象ページへ移動します。
「ブックを開く」ボタンをクリックすると今すぐブックを開きます。
このページは メカトロニクス11月号2015年 の電子ブックに掲載されている17ページの概要です。
秒後に電子ブックの対象ページへ移動します。
「ブックを開く」ボタンをクリックすると今すぐブックを開きます。
メカトロニクス11月号2015年
MECHATRONICS 2015.11 17電気・電子計測器A オシロスコープ上でMIPI MPHYのUniProプロトコルをデコードし表示するUniProデコード・オプション。特徴は、①最大4レーンまでのUniPro信号をデコードし、プロトコル情報をカラーコード化して物理層信号波形上に重ねて表示可能、②デコードされたプロトコル情報は、2つのことなる表形式で表示され、フレーム/シンボルレベルの情報が得られる、③特定のフレームを選択することで、対応する物理層信号波形を拡大表示可能、など。UNIPRObus DUniProデコード・オプションテレダイン・レクロイ・ジャパン(株) 東京都府中市緑町3-11-5 大型8インチWVGA画面を搭載した最高1GS/秒の4CH/2CHデジタルストレージオシロスコープ。特徴は、①最高120,000波形/秒の高速波形更新とVPOテクノロジによる階調表示で発生頻度の少ない現象を明瞭に観測可能、②最大10Mポイント/CHの波形メモリと最大29,000画面のセグメント機能により、必要な現象のみを捕捉、③垂直軸アンプのローノイズ化により、高感度での波形観測が可能、④シリアルバストリガとデコード機能を搭載、など。DCS-2000E シリーズデジタルストレージオシロスコープ(株)テクシオ・テクノロジー 横浜市港北区新横浜2-18-13 ワイヤレスデバイスの量産テストにかかるコストの削減に役立つワイヤレステストシステム。特徴は、①PXIベースのハードウエアとLabVIEW/TestStandの両ソフトウエアを基盤に構築、②複数の規格/DUT(被測定デバイス)/ポートを使用するテストに対応、③Qualcomm社およびBroadcom社製チップセットなどを使用するデバイスに対してすぐに実行可能なテストシーケンスに加え、DUTの統合管理機能やリモート自動制御機能を装備、など。Wireless Test Systemワイヤレステストシステム日本ナショナル・インスツルメンツ(株) 東京都港区芝大門1-9-9PCとのオンライン測定を目的とした多チャンネルデジタル動ひずみ測定器。特徴は、①1台あたり50点、最大20台をケーブルで接続することにより1000点まで同時サンプリング測定を可能にする、②最速1kHzサンプリングでの測定に対応、③機器間を接続ケーブルで最大100m離すことができ、従来の動ひずみ測定器では困難であった広範囲の多点動ひずみ測定が可能、④測定には計測ソフトウエアDS-750(標準添付)、または動的計測ソフトウエアVisual LOG DS-7640(別売り)を使用、⑤ブリッジボックス搭載、⑥ひずみ、電圧ユニットの混在可能、など。DS-50A多チャンネルデジタル動ひずみ測定器(株)東京測器研究所 東京都品川区南大井6-8-2請求番号 L5045請求番号 L5046請求番号 L5047請求番号 L5048請求番号L0016請求番号L0017