ブックタイトル実装技術7月号2021年特別編集版

概要

実装技術7月号2021年特別編集版

16　今日のBGAなどの『見えない・触れない』部品を多数搭載した高密度実装基板の検査・故障解析は、ますます困難な状況になってきている。　JTAGテスト(バウンダリスキャンテスト)は、これらの実装検査の問題点を解決するための手法として、1990 年に規格化されたものである。■ 試作から量産まで使える　『JTAG ProVision』　「JTAG ProVision」は、回路図CADから出力されるネットリストから、テストパターンが自動で生成されるため、試作?量産まで、様々な段階の基板において検査・故障解析が行える。　これにより、試作では、設計者が基板や部品の実装不良による無駄な開発時間を費やすことがなく、開発効率を上げることが可能になる。　さらに、量産段階のテストにJTAGテストを取り入れることで、高品質・高信頼度の生産を実現することが可能となる。■ テスト容易化設計 DFT　（ Design for Testability）　半導体メーカーから提供されるデバイスには、DFT(テスト容易化設計)に基づく(JTAGテスト用の) 標準回路内蔵の製品が続々と提供されてきており、JTAGテストの効果を最大化するためには、回路設計時のDFTが重要となっている。　詳細は、同社が提供している「JTAG技術レポート」でJTAGテストのためのテスト容易化設計の内容を確認できる。　また「JTAG ProVision」により、事前に基板のテストカバレッジを計算することができ、またテスト範囲をビジュアル表示することが可能。基板の設計段階からJTAGテストによる検査・故障解析についてのレビューが可能だ。JTAGテスト（バウンダリスキャン テスト）アンドールシステムサポート（株）PRJTAG 技術レポートJTAG ProVision■ （株）図研『CR-8000』との連携　（株）図研が提供するシステムレベル設計環境『CR-8000』は、『JTAG ProVision』との連携を実現している。「バウンダリスキャン・アドバイザ」には、『CR-8000』の回路図CAD『Design Gateway』に「JTAGテストカバレッジ表示機能」「JTAGテスト結果表示機能」の2つの機能を追加することができる。　運用手順は『Design Gateway』で設計した回路図からネットリストファイル（.edsもしくは.ccf）を出力して、ProVisionに読み込み、JTAGテストパターンを作成する。次にJTAG ProVisionのテストカバレッジ結果ファイル(.imsg)を出力して『DesignGateway』から読み込むことができる。　　　　　　　　　 ＜請求番号 G7007＞