ブックタイトル実装技術7月号2017年特別編集版

概要

実装技術7月号2017年特別編集版

13　海外メーカーとの競合が激しいエレクトロニクス業界では、製品検査のスピードと効率化が利益と開発サイクルの短縮に重大な影響を与えることになる。　JTAGテスト（バウンダリスキャン テスト）は、最近増えているBGA（DDRメモリとFPGA、マイコン）のはんだ不良によるトラブルを検査する最善の方法となる。■ テストの準備にかかる時間を　 約1/3に短縮『JTAG ProVision』　JTAG ProVisionは、回路CADから出力されるネットリストとJTAG ProVisionに搭載されている約20万種類の豊富な部品ライブラリから、テストプログラムを自動生成することができる。　ファンクションテスタで必要なターゲットデバイスの詳しい知識がなくても、プログラム生成が可能なため、テストの準備にかかる時間を大幅に短縮することができる。　また、ファンクションテスタの製作単価を1/2～1/3に抑えることができ、使えば使うほど生産コストに大きな差がつく。■ 故障箇所を瞬時に特定できる　 故障診断ツール『JTAG Visualizer』　不良発生時には、故障箇所をビジュアルに表示し、オープンやブリッジなどの故障の種類や箇所を瞬時に特定できるため、リペア時間を大幅に短縮できる。　また、JTAGテストで検査できる範囲を分析することができ、テスト範囲の検討が事前に行える。■ JT57xx/RMIc　 バウンダリスキャンコントローラ　JTAGテクノロジーズ社では、ラックマウント型のバウンダリスキャンコントローラをリリースしている。・19インチラック Compact 1U・2～8TAP・I/Oチャンネル MAX 256・電圧／周波数測定・TCK MAX 40MHzJTAGテスト（バウンダリスキャン テスト）アンドールシステムサポート（株）PR日本語版 JTAG ProVision 画面■ （株）図研『CR-8000』との連携　（株）図研が提供するシステムレベル設計環境『CR-8000』は、『JTAG ProVision』との連携を実現している。「バウンダリスキャン・アドバイザ」には、『CR-8000』の回路図CAD『Design Gateway』に「JTAGテストカバレッジ表示機能」「JTAGテスト結果表示機能」の2つの機能を追加することができる。　運用手順は『Design Gateway』で設計した回路図からネットリストファイル（.edsもしくは.ccf）を出力して、ProVisionに読み込み、JTAGテストパターンを作成する。次にJTAG ProVisionのテストカバレッジ結果ファイル(.imsg)を出力して『DesignGateway』から読み込むことができる。　　　　　　　　　 ＜請求番号 G7010＞