ブックタイトル実装技術6月号2014年特別編集版
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実装技術6月号2014年特別編集版
10 海外メーカーとの競合が激しいエレクトロニクス業界では、製品検査のスピードと効率化が利益と開発サイクルの短縮に重大な影響を与えることになる。 JTAGテスト(バウンダリスキャンテスト)は、最近増えているBGA(DDRメモリとFPGA、マイコン)のはんだ不良によるトラブルを検査する最善の方法となる。■テストの準備にかかる時間を 約1/3に短縮『JTAG ProVision』 JTAG ProVision は、回路CAD から出力されるネットリストとJTAGProVision に搭載されている約13 万種類の豊富なデバイスライブラリから、最短18クリックでテストプログラムを自動生成することができる。 ファンクションテスタで必要なターゲットデバイスの詳しい知識がなくても、プログラム生成が可能なため、テストの準備にかかる時間を大幅に短縮することができる。 また、検査治具の製作単価を50~70%削減することができ、使えば使うほど生産コストに大きな差がつく。■故障箇所を瞬時に特定できる 故障診断ツール『JTAG Visualizer』 不良発生時には、故障箇所をビジュアルに表示し、オープンやブリッジなどの故障の種類や箇所を瞬時に特定できるため、リペア時間を大幅に短縮できる。 また、JTAG テストで検査できる範囲を分析することができ、テスト範囲の検討が事前に行える。■DDR2、DDR3メモリのテスト DDR3 などの高速メモリについてはデバイスライブラリより自動で検査するプログラムを生成できる。故障箇所まで自動で特定することができる。JTAGテスト(バウンダリスキャン テスト)アンドールシステムサポート(株)PR日本語版 JTAG ProVision 画面JTAG Visualizer 画面JTAG 技術レポートのトップページ■ミックスド・シグナル・ JTAGテスター『JT5705/USB』 JTAG テクノロジーズ社では、従来のバウンダリスキャン・テストに加えて電圧/周波数測定可能なテスタをリリースしている。? 2TAP ? 64I/O チャンネル? 電圧/ 周波数測定 ? TCK15MHz? USB インタフェース■JTAGテストで効果を上げた 顧客事例 アンリツ(株)、(株)沖電気コミュニケーションシステムズ、Spansion inc.社など、JTAG テストで効果を上げた顧客の事例を、同社のサイトから無償でダウンロードできるようになっている。 また、JTAGテストについて、長年のノウハウをまとめたJTAG技術レポートも、同社のサイトより無償でダウンロード可能となっている。 <請求番号 F7005>