ブックタイトル実装技術5月号2014年特別編集版
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実装技術5月号2014年特別編集版
請求番号 E0704 1通常視あっと言う間にQFNの裏のコンデンサーが消える!!「X線ステレオ方式 の実力」X線ステレオ方式「X線ステレオ方式 」により、QFN面とチップ面を切り分けて自動検査※X線ステレオ方式は、株式会社アイビットの登録商標です。設計・製造株式会社 アイビット〒213-0012 川崎市高津区坂戸3-2-1 KSP(かながわサイエンスパーク)東棟6FTEL.044-829-0067 FAX.044-829-1055 E-mail:information@i-bit.co.jp X線検査ならⅠ-BⅠT 検 索実装基板の表裏が重なって検査が難しいQFNのはんだ接合部の自動検査が可能●装置寸法・重量 :1300(W)×1150(D)×1450(H)mm・900kg以下BGAのクラック部裏面除去Before After幾何学倍率1000倍を達成FX-300tRX with CT3次元ステレオ方式X線自動検査装置①X線ステレオ方式R採用(アイビット独自技術) ②幾何学倍率:1000倍③X線広角照射で斜め撮影可能 ④BGA自動検査機能(OP)仕様:X線ステレオ方式で裏面情報キャンセル●X線ステレオ方式Rに「ステレオCT機能」が追加されました。●解析CTモードでは基板との接続界面の観察も可能。●従来型(FX-300tR)の高倍 率がさらに1000倍まで向上 しました。●【全数自動検査モード】、【抜き 取り検査モード】、【1000倍の 高倍率で不良解析】、1台3役 で活躍します。