ブックタイトル実装技術2月号2014年特別編集版

概要

実装技術2月号2014年特別編集版

7検査技術　電子機器の高機能化によって進化を続ける電子回路は、それに従って高密度なものになっています。各機器の性能を支える回路には、微細配線や微小チップなどの最先端部品、並びに高速化などへの新技術が搭載されていますが、生み出される製品は新しい技術の結集体であるがゆえに、従来では想像できなかったような現象や問題が起こるという可能性の存在もまた、否定することはできません。　そのような状況下にあって、検査技術及び各種機器の果たす役割はますます重要なものになってきていると考えられます。エレクトロニクス実装業界における2次元と3次元画像検査技術（AOI）の要求MIRTEC USA社長 / ブライアン・ダミーコ（ 翻訳：日本ミルテック（株） / 村川　太一）デジタルカメラによる高倍率、高精細画像撮影システム（株）オプトハイテック・早稲田大学 / 石附　英昭普及モデル X線インライン検査機の開発（株）アイビット / 向山　敬介JTAGはバウンダリ・スキャンだけではない～『MITOUJTAG』で広がるJTAGテストの可能性～特殊電子回路（株） / 内藤　竜治　検査の目的は、まず工程内で不良を作らない、そして不良品を市場の外に出さないということにあります。それを実現させるために、様々な検査装置や検査技術があり、それを活かした検査システムの構築がなされています。　そのような中にあって、現在の各種検査装置及び検査技術関連メーカーでは、今日的課題をどのように見据えて製品開発に取り組んでいるのでしょうか。本特集では検査技術に焦点をあてた論文を掲載いたします。