ブックタイトル実装技術11月号2013年特別編集版

概要

実装技術11月号2013年特別編集版

25JTAG 準拠のデバイスにはあらかじめこれらのセルが組み込まれているので、ユーザーは検査のために特別なメカニズムを追加する必要はない。しかも、多くのCPUやプログラマブルなデバイスはJTAG 対応である。そして、このテスタによってフライングプローブやインサーキットテスタ、光学検査装置で抱える問題に対処し、互いを補完しあうことが可能で、電子基板の実装検査、不良解析の省力化に貢献する、といった説明が、両氏によって行われた。■検出と診断　次に、『実装不良の検出と診断』として、XJTAG 社のプリンシパル・ソフトウエア・エンジニアのBob Storey 氏による発表が行われた。　「検出」とは、「回路基板になんらかの不良があるかどうかを見つけ出す」「実装不良があるかないかを見つけ出す」ことである。そして、もし「実装不良がある」ということになると、次に行うのは「それがどこにあるのか」「どういう性質のものなのか」を判断することになることになり（たとえば「ネットA13はA14に対してショート」など）、これがつまりは「診断」である。そして実際には不良はそれほど多いものではない。そこで必要なのは、「検出」をできるだけ迅速に行うことであり、「診断」が必要になるのは実装不良が見つかったときのみで、ここに時間をかけるべきである、としている。　この「診断」はツールによっては難しいものがあるが、XJTAGではシンプルな診断が可能であるという。その上で、XJTAGを使用したロジックゲートの検査例が示され、たとえば、1 個所のショートにより複数のエラーが生じた場合に、Layout viewerで概要を把握し、XJAnalyserで確認して、オシロスコープでショートしている部分を特定する、という手順が紹介された。　実装不良の診断を改善する方法として、① JTAG 準拠のデバイスならJTAG　信号を配線する②できるだけJTAG 準拠のデバイスを　使用する③ JTAG デバイスの全てのI/O ピン　を接続する（機能的に使用されない　信号でもテストに活用できる）④オープンエラーの検出と診断を考慮　に入れるというアドバイスとともに、XJTAG の案内が行われた。■プログラマブルなデバイスと　上手につきあう方法　続いて、XJTAG 社のプリンシパル・ハードウエア・エンジニアであるRobHumphrey 氏によって、『プログラマブルなデバイスとJTAGテスト』についての発表が行われた。　ここではバウンダリスキャンの特徴が述べられるとともに、「プログラマブルなデバイスと上手に付き合う」方法として、「JTAG のTAP 信号へアクセスできるようにする」「デバイスの設定はクリアする（ブランクに）」「内部プルレジスタで実装不良が隠されないように留意する」、その他、などの諸点が分かりやすく解説された。　すべての発表者の発表が終わった後に行われた質疑応答では熱心な質問とやり取りが交わされ、閉会となった。　またセミナーには、『バウンダリスキャンハンドブック』（ケン・パーカー：著、青山社）の監訳者である富士通（株）ものづくり推進本部 シニアエキスパートエンジニアSEEで、技術士（電気電子）の亀山修一氏も出席し、「容易なテスト生成、故障解析、高速フラッシュ書込みなどXJATG 社の高い技術と先進的な取り組みに感心しました。また、開発技術者から直接話を聞けたのは素晴らしいことでした」というコメントを寄せた。　なお、XJTAG社・富士設備工業では、顧客の様々な要求に応じて、無料の体験版や基板セットアップ、講習会を提供している。XJTAG社 プリンシパル・ソフトウエア・エンジニア Bob Storey氏XJTAG社 プリンシパル・ハードウエア・エンジニア Rob Humphrey氏