ブックタイトル実装技術11月号2013年特別編集版

概要

実装技術11月号2013年特別編集版

24富士設備工業（株）が『JTAG バウンダリスキャンテストセミナー』を開催　2013 年9月27日、東京・秋葉原コンベンションホールにおいて、富士設備工業（株）によるセミナー『JTAG バウンダリスキャンテストセミナー』が開催された。　BGAを電気的に試験する用法として有効なJTAG バウンダリスキャンテストへの関心の高さから、多くの参加者を集めていた。　セミナーのプログラムの1 番目は、『XJTAGについて JTAG バウンダリスキャンテストについての概要』であった。ここでは、同社の取締役であり電子機器事業部部長である浅野義雄氏と、同社電子機器事業部技術部部長の小山美樹氏から、XJTAG 社についての紹介とJTAGバウンダリスキャンテストの原理について説明が行われた。■XJTAG社について　XJTAG 社は、英・ケンブリッジにあるケンブリッジ・テクノロジー・グループという会社の一角にある。ケンブリッジ・テクノロジー・グループは、ASIC の設計や組み込みソフト、ハードの企画、設計、コンサルタントである会社であり、このケンブリッジ・グループ社にとっても、XJTAG の汎用ツールのビジネスは大きな柱、中心的な存在になっている、という。　XJTAG 社の展開はイギリスとアメリカのオフィスの他、代理店網を通じたワールドワイドなものとなっており、日本における代理店業務（販売・サポート）は富士設備工業（株）が行っている。そしてすでに世界中に多くのユーザー、パートナー（ICTメーカー、ファンクショナルテスタ・メーカー、デバイス・メーカー）で活用されている。■JTAGバウンダリスキャンテストとは　今日、実装現場では、「このデバイスは基板に正しく接続されているかが分からない」「このデバイスの内面は基板に正しく接続されているかが分からない」「このデバイスは他のデバイスと正しく接続されているかが分からない」といった問題を抱え、プローブ接続が困難な高密度実装は増加の一途をたどっている。しかし、それらのテストに手間と時間をかけていると、製造費用よりもテスト費用のほうが高くなってしまいかねない。　JTAGバウンダリスキャンテストは、このような問題の解決に有効な手段で、IEEE の国際スタンダードとして定められている。そのスタンダードとは、ASICやマイコンなどのデバイス内部の機能について、4～5 本のピンにアクセスするだけで検査できるというものであり、JTAGグループのこれまでの取り組みによって、接続パッドとシリコン上の電子回路間にセルを加えることについての合意がなされている。つまり、同社取締役・電子機器事業部部長 浅野義雄氏と聴講者同社電子機器事業部技術部部長 小山美樹氏