ブックタイトル実装技術6月号2013年特別編集版

概要

実装技術6月号2013年特別編集版

25バウンダリスキャンテスタXJTAG/富士設備工業（株）PR　BGA など高密度実装基板の検査・不良解析を電気的に行えるJTAG バウンダリスキャンテストは、ソフトウエアによってJTAG デバイスの信号線をプローブとして操作・観測するためソフトウエア技術によって最大限に活かされる。　●ネットリスト解析機能でJTAGデバ　 イス信号間の実装テストを自動生成　●BOM 解析によるJTAG 未対応デバ　 イスの機能テスト設定自動化　●JTAG未対応デバイスの機能テスト　 をライブラリ化＆無償提供　●DFT 解析によりカバレッジ結果か　 らテスト容易性設計へ改善　●ランタイムデバッグやエラー解析の　 ビジュアル化　XJTAG 社は高度なソフトウエア技術によって、バウンダリスキャンツールの使い勝手・容易性・再利用性に革新を起こしたパイオニアである。ツールや保守費は安くなり、テストプログラムの開発工数・費用も軽減され、再利用やサポートも容易になり、今やJTAGバウンダリスキャンテストは設計・開発から製造・メンテナンスまで一貫して活用される。富士設備は組込みソフトウエア開発の専門家として、この製品の安心サポートを提供している。■体験版とセットアップが無料　BGA搭載など、あらゆる基板の設計・デバッグから量産検査・不良品解析に活用できることを証明するために、セットアップも含めた無料体験版/ 講習会を提供している。■多くの成功事例を公開中　同社のHPでは、JTAGテスト、バウンダリスキャンによる基板実装テスト、機能テストの、実際のユーザーの事例を公開している。『XJTAG事例』というキーワードで検索すると見ることができる。　なお、BGAの実装検査・不良解析に強いとはいえ万能ではない。JTAG バウンダリスキャンテストを考慮した設計によってテストカバレッジの向上が見込める。DFTガイドラインを公開しているので、『XJTAG DFT』で検索していただきたい。　　　　　　　　 ＜請求番号 F7022 ＞