実装技術1月号2013年特別編集版 page 42/62

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48　もし、修理期日が決まっている製品であれば、故障解析・デバッグする時間が取れないまま、結果としては故障基板を積み上げることになる。多くの場合、最後には基板が廃棄されて、その問題は未解決のままになり、....

48　もし、修理期日が決まっている製品であれば、故障解析・デバッグする時間が取れないまま、結果としては故障基板を積み上げることになる。多くの場合、最後には基板が廃棄されて、その問題は未解決のままになり、製造へのフィードバックができないことになる（表2）。6.ヒント⑤　課題を解決するJTAGテストの基本と応用　JTAG テストは、図6 のように、4 本（もしくは5 本）の信号で基板全体をテストすることができる。JTAGテストでは、いくつかのテストを組み合わせて、テスト範囲を補完してテストカバレッジを向上している。JTAGテストでは、マイコンのプログラムやFPGA のロジックは不要であり、部品内部のバウンダリ・スキャンセルと呼ばれるシフトレジスタをPC から制御してテストを行う。　JTAGテスト用のテストプログラムは、JTAGテストツール『JTAG ProVision』により自動生成される。したがって、検査カバレッジと合否判定はJTAGテストツールで自動化され、さらに故障診断まで自動化でき瞬時に基板上の故障箇所が分かる。●インフラストラクチャテスト　基板レベルの検査であるJTAG テストは、図7 のような基板の外部に接続されたJTAGコントローラから実行する。JTAG テストでは、必ずインフラストラクチャテストをテストシーケンスの最初に実行する。インフラストラクチャテストでは、JTAG対応デバイスが正しい型番、リビジョンの部品であるか、JTAG 信号の断線、ショート、ハンダ不良などの不良を検出できる。　JTAGテスト時に、JTAG対応デバイスのピンから信号の入出力を行う正しく制御できるか判断するための重要なテストである。テスト方法は、JTAG対応のデバイスのIDコード、レジスタを読み込み、期待値と比較して合否判定を行うため、テスト設計者に依存しないテスト手法である。●インターコネクトテスト　インターコネクトテストは、被検査基板上のすべてのJTAG 対応デバイス間のパターン、はんだ不良を検査できる。『JTAG ProVision』で自動生成されたテストプログラムにより、PCに接続したJTAGコントローラを介して、基板上のJTAG対応デバイスのピンがプローブの代わりとして制御される。インターコネ図7　プロトタイプ段階でも使用できる図6　基板全体を検査できるJTAGテストコンパクトなJTAGテストツール表2　ファンクションテストの特徴と課題ファンクションテストの特徴ファンクションテストが抱える課題