実装技術7月号2012年特別編集版 page 19/38

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21　5　　バウンダリスキャンテストについて6　バウンダリスキャンテストはマイクロコントローラやFPGAなどのデバイス内に組み込まれた専用のテスト回路を活用する。各デバイスはテストアクセスポート（JTAG ポート....

21　5　　バウンダリスキャンテストについて6　バウンダリスキャンテストはマイクロコントローラやFPGAなどのデバイス内に組み込まれた専用のテスト回路を活用する。各デバイスはテストアクセスポート（JTAG ポート）をもち、基板上の4信号線のみでバウンダリスキャンチェインにシリアル接続される。JTAG テストプローブは、この4信号に接続されるだけで各デバイスへのI/O は不要。このテスト手法はJoint Test Action Group （JTAG）によって提案され、1990 年にIEEE 1149.1 スタンダードとして採択された。XJTAG テストシステムはテストの生成や再利用を容易にすること、バウンダリスキャンチェインに直接接続されないJTAG 未対応デバイスをテストするために基板上のI2C やSPI バスなどを活用するなど、バウンダリスキャンテストの潜在能力を最大限に引き出している。これにより、メモリ、イーサネットポート、ADC やDAC もバウンダリスキャンでテストができる。またセンサやディスプレイデバイス、スイッチなどにも対応している。　　　まとめ　BGA など高密度実装基板の検査・不良解析を電気的に行えるJTAG バウンダリスキャンテストは、JTAG デバイスの信号線をプローブとして操作・観測するためソフトウエア技術によって最大限に活かされる。そして、XJTAG 社は高度なソフトウエア技術によって、バウンダリスキャンツールの使い勝手・容易性・再利用性に革新を起こしたパイオニアである。　●ネットリスト解析機能でJTAGデバイス信号間　　の実装テストを自動生成　● BOM 解析によるJTAG 未対応デバイスの機能　　テスト設定自動化　● JTAG未対応デバイスの機能テストをライブラ　　リ化＆無償提供　● DFT解析によりカバレッジ結果からテスト容易　　性設計へ改善　●ランタイムデバッグやエラー解析のビジュアル化　これらによりテストプログラムの開発工数・費用が軽減され、再利用やサポートも容易になり、今やJTAGバウンダリスキャンテストは設計・開発から製造・メンテナンスまで一貫して活用される。　国内代理店である富士設備は、組み込みソフトウエア開発の専門家としての強みを生かし、この製品の安心サポートを提供している。XJTAG 社のサイトには、JTAG バウンダリスキャンに関する技術情報が、和文・英文で公開されている。また国内代理店である富士設備では、動画デモ、デザインfor テストの概説書、成功事例などをホームページで公開し、無償評価版・無償基板セットアップなども受け付けている。JTAGバウンダリスキャンテストの革新的ソフトウエア技術 JTAGバウンダリスキャンテストの革新的ソフトウエア技術設計・解析・シミュレーションXJTAG 社、富士設備工業( 株)