実装技術7月号2012年特別編集版 page 17/38

このページは 実装技術7月号2012年特別編集版 の電子ブックに掲載されている17ページの概要です。
秒後に電子ブックの対象ページへ移動します。
「電子ブックを開く」をクリックすると今すぐ対象ページへ移動します。

概要：
19追加・変更するだけで済む。そして入念に作りこまれたGUI によってテストプログラムの生産性は最大限に効率化される（図5）。3.DFT 解析によるカバレッジから　テスト容易な設計へ改善　XJTAG 社が進める設計とテ....

19追加・変更するだけで済む。そして入念に作りこまれたGUI によってテストプログラムの生産性は最大限に効率化される（図5）。3.DFT 解析によるカバレッジから　テスト容易な設計へ改善　XJTAG 社が進める設計とテスト開発の協調作業は包括的な生産性向上に寄与する。設計技術者は、DFT（Design for Test）解析機能を活用することで、従来よりも早期段階からテストを考慮に入れることができる。わずかな設計変更でテスト容易性を大きく改善することもできるし、カバレッジ結果からテストされない個所を特定することで、後の変更にかかるコストを最小限に抑えることができる（図6）。4.テストのフォーマリズム　テストプログラム実行に影響する設計上のエラーは、クリティカルなエラーであっても設計時には見過ごされることが多い。そのようなエラーを早期に発見できることで基板の改版を削減できることが多くのユーザーから報告されている。またエラーがミッションモード動作に関わるものならばプロトタイプのデバッグ時にはチェックできない。　XJTAG には開発エンジニアが使用するシミュレータやモデリングのようなテストの手法とは違った独自のフォーマリズム（ルールや制約）があり、テストプログラムの設定を行うなかで、これを満たす必要がある。結果、有益な追加のチェックが実施される。ただ一つのエラーでも運の悪い場合にプロトタイプ基板は使い物にならないし、少なくとも対処策が見つかるまで基板の立ち上げは遅れてしまう。　JTAG 信号の欠陥は事前に発見できるものの代表例であり、多くの時間と工数の軽減に貢献する。JTAG 信号はプログラミングに使用されることも多く、これに欠陥があってはテストやプログラミングができない。もしJTAG 信号がネットリスト上で間違って配線されているとXJTAG のテストプログラム設定ができない。　またXJTAG のテストプログラム設定時のエラー表示から、プリント配線板のフットプリントとデバイスパッケージが合わないといった致命的な欠陥を検出し、使いものにならない基板が製造されてしまう前に改善できた事例も報告されている。　『設計サイクルの早い段階で詳細を共有して様々なビューで推敲することで、XJTAGは単なるスタンドアロンのテストツールの枠を超えて、テスト項目・内容を事前に計画して視覚化できる包括的な環境を提供し、初版のプロトタイプ基板が上がるまでにテストは準備万端でデバッグを即座に開始できるようになる』。5.ランタイムデバッグ、エラー解析のビジュアル化　XJTAG バウンダリスキャンシステムのLayoutViewer 機能はODB++ フォーマットに対応し、基板のレイアウト情報があれば、テストネットがネットリスト上だけでなく回路図上で視覚的に確認することができる。この視覚化は製造試験時により大きな効果を発揮する。バウンダリスキャンテストでエラーが検出されれば、それに関わるネットが基板レイアウトや回路図上に視覚表示されるので、テスト担当者は該当箇所を直ちに突き止めることができる（図7）。JTAGバウンダリスキャンテストの革新的ソフトウエア技術 JTAGバウンダリスキャンテストの革新的ソフトウエア技術設計・解析・シミュレーションXJTAG 社、富士設備工業( 株)図7　回路図ビューアによるエラー箇所の視覚化