実装技術6月号2012年特別編集版 page 8/54

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6バウンダリスキャン テストアンドールシステムサポート（株）PR■進化しつづける　JTAGバウンダリスキャン テスト　JTAG バウンダリスキャンは、IEEE1149.1で制定された国際規格であり、昨今の部品内蔵基板や、TSV ....

6バウンダリスキャン テストアンドールシステムサポート（株）PR■進化しつづける　JTAGバウンダリスキャン テスト　JTAG バウンダリスキャンは、IEEE1149.1で制定された国際規格であり、昨今の部品内蔵基板や、TSV などの3Dデバイス搭載ボードにも対応する次世代の検査システムである。■『見えない・触れない』ピン　電子機器の小型化・高密度化に伴い、部品内蔵基板の採用が増えている。部品内蔵基板は、能動部品、受動部品を基板内に内蔵するため、内蔵部品のほとんどが『見えない・触れない』ピンをもっている（図1）。　また、TSV を使った3D 実装技術は、一つのパッケージ内に複数の部品を縦方向に積層する構造のため、これもまた『見えない・触れない』ピンとなる。■JTAGバウンダリスキャン テストが　できる仕組み　IEEE1149.1 準拠のデバイスは、デバイスにあらかじめ故障を検出するための回路が設けられているため、デバイスのピンに物理的にプロービングせずに、接合状態を検査できる（図2）。■部品内蔵基板、　TSV技術にも対応するJTAGテスト　システム JTAG ProVision　約10万種類のデバイスライブラリを用いて、わずか18クリックでテストプログラムを自動生成することができる。　また、検査は数秒で完了し、不良発生時には、故障診断ソフトウェアにより、図1　部品内蔵基板図2　JTAGバウンダリスキャン対応デバイス図3　故障個所のビジュアル表示図4　新製品のJT2149/DAFを用いてJTAG で電圧値を測定している画面オープンやブリッジなどの故障の種類や箇所を瞬時に特定できる。　さらに、検査基板の回路図やボードレイアウト図上に故障箇所をハイライト表示させることができる（図3）。　JTAG ProVision を活用したユーザ事例についての資料は同社ウェブサイトで請求することができる。■無料で始めることができる　JTAGテスト JTAG Liveファミリ　JTAGLive は、『見えない・触れない』ピンをPC からマウス操作でかんたんにドライブ/ センスできるローコストなソフトウエアである。　その他にも、ARM マイコンなどのCPU のレジスタやメモリをアクセスすることができるCoreCommander は、バウンダリスキャン機能をもたないCPU を制御して、検査カバレッジを拡大することができる。　また、JTAG Live は、FPGAダウンロードケーブルを利用できる。　無料のJTAG Live Buzzは、同社のサイトよりダウンロードが可能となっている。■新しい機能検査である　JTAGファンクショナルテスト　CPUのコアを動作させずに、バウンダリスキャン回路の制御のみで、周辺回路を検査できる。これにより、CPUのピンを直接制御するため、面倒なCPUのファームウェアを開発する必要がない。　また、新製品のJT2149/DAF は、JTAG テストに加えて検査基板の電圧測定や周波数測定が可能である（図4）。　　　　　　　　＜ 請求番号　F5001 ＞