実装技術２月号2012年試読 page 4/26

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9検査装置・技術の最新動向　電子機器の高機能化によって進化を続ける電子回路は、それに従って高密度なものになっています。各機器の性能を支える回路には、微細配線や微小チップなどの最先端部品、並びに高速化な....

9検査装置・技術の最新動向　電子機器の高機能化によって進化を続ける電子回路は、それに従って高密度なものになっています。各機器の性能を支える回路には、微細配線や微小チップなどの最先端部品、並びに高速化などへの新技術が搭載されていますが、生み出される製品は新しい技術の結集体であるがゆえに、従来では想像できなかったような現象や問題が起こるという可能性の存在もまた、否定することはできません。　そのような状況下にあって、検査技術及び各種機器の果たす役割はますます重要なものになってきていると考えられます。　検査の目的は、まず工程内で不良を作らない、そして不良品をエリア共焦点光学系による検査技術～CNC画像測定システム コンフォーカルNEXIV VMZ-Kシリーズ～（株）ニコン インストルメンツカンパニー / 清水　房生電磁場再構成法と走査型トンネル磁気抵抗効果顕微鏡の開発～電子部品内部の非破壊検査への応用～神戸大学 / 木村　建次郎、美馬　勇輝　大阪大学 / 木村　憲明　京都大学 / 大藪　範昭（株）村田製作所/ 稲男　健今日的な要求に応える、X線ステレオ差分方式による実装基板検査（株）アイビット / 向山　敬介市場の外に出さないということにあります。それを実現させるために、様々な検査装置があり、それを活かした検査システムの構築がなされています。　そのような中にあって、現在の各種検査装置及び検査装置メーカー、並びに研究機関では、今日的課題をどのように見据えて製品・技術開発に取り組んでいるのかを、ご紹介いたします。参　考　文　献高品質を追求する検査装置、エレクトロニクス実装技術、技術調査会、Vol.24 No.2、p43（2008.2）