実装技術２月号2012年試読 page 2/26

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22012Vol.28 No.22特 集検査装置・技術の最新動向　電子機器の高機能化によって進化を続ける電子回路は、それに従って高密度なものになっています。各機器の性能を支える回路には、微細配線や微小チップなどの最先端....

22012Vol.28 No.22特 集検査装置・技術の最新動向　電子機器の高機能化によって進化を続ける電子回路は、それに従って高密度なものになっています。各機器の性能を支える回路には、微細配線や微小チップなどの最先端部品、並びに高速化などへの新技術が搭載されていますが、生み出される製品は新しい技術の結集体であるがゆえに、従来では想像できなかったような現象や問題が起こるという可能性の存在もまた、否定することはできません。そのような状況下にあって、検査技術及び各種機器の果たす役割はますます重要なものになってきていると考えられます。　本特集では、現在の各種検査装置及び検査装置メーカー、並びに研究機関では、今日的課題をどのように見据えて製品・技術開発に取り組んでいるのかをご紹介いたします。■特別レポート電子回路世界大会＆TPCA Show 2011取材レポート……………P26海外特別取材班中国での大規模LED照明フォーラムChina SSL 2011　第8届中国国際半導体照明論壇………………P30Grand Joint Technology Ltd／大西　哲也第18回長野実装フォーラム～フィンランドNEXTとの共同フォーラム～ ……P32大西　哲也■展示会レポートCEATEC JAPAN 2011…P34セミコン・ジャパン 2011………P362011国際ロボット展………P38国際画像機器展2011……P39エリア共焦点光学系による検査技術～CNC画像測定システム コンフォーカルNEXIV VMZ-Kシリーズ～……P10（株）ニコン インストルメンツカンパニー / 清水　房生電磁場再構成法と走査型トンネル磁気抵抗効果顕微鏡の開発～電子部品内部の非破壊検査への応用～ …………………………………………………P16神戸大学 / 木村　建次郎、美馬　勇輝　大阪大学 / 木村　憲明　京都大学 / 大藪　範昭　（株）村田製作所 / 稲男　健今日的な要求に応える、X線ステレオ差分方式による実装基板検査…P22（株）アイビット / 向山　敬介